Информация о реферате.Сканирующая зондовая микроскопияДисциплина: Математика и физикаТип работы: доклад Дата: 05.11.1999 Язык: русский Ключевые слова: полупроводник, туннельный, исследование, рельеф, топограф Размер файла: 82589 байт скачать реферат! |