Если вы не нашли подходящий реферат (курсовую, диплом), вы можете заказать его написание
опытными специалистами.

Рефераты - Главная | Каталог рефератов | Поиск

Информация о реферате.

Сканирующая зондовая микроскопия

Дисциплина: Математика и физика
Тип работы: доклад
Дата: 05.11.1999
Язык: русский
Ключевые слова: полупроводник, туннельный, исследование, рельеф, топограф
Размер файла: 82589 байт

скачать реферат!